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大型高低溫試驗箱芯片可靠性測試系統

大型高低溫試驗箱芯片可靠性測試系統
?是專為芯片研發、生產與質量檢測打造的環境試驗設備。箱體采用高強度耐腐蝕材料制成，具備密閉性與隔熱性，能有效抵御外界環境干擾，確保內部試驗環境穩定。內部空間寬敞，可同時容納多組芯片樣品進行測試，配備高精度溫度、濕度傳感器與智能控制系統，能夠精準調控試驗環境，實現對芯片在復雜溫濕度條件下的可靠性評估。

產品型號：THC-80PF-D
廠商性質：生產廠家
更新時間：2026-01-02
訪問量：745

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詳細介紹

大型高低溫試驗箱芯片可靠性測試系統

用途

該系統主要用于模擬芯片在不同環境下的工作狀態，測試芯片在高溫、低溫、高濕、低濕等環境下的電氣性能、物理性能及可靠性。在芯片研發階段，幫助工程師發現潛在問題，優化設計方案；在生產環節，對芯片成品進行抽檢或全檢，確保產品質量達標；在失效分析中，通過模擬故障環境，找出芯片失效原因，為改進生產工藝提供依據。

大型高低溫試驗箱芯片可靠性測試系統

技術參數

溫度范圍：-70℃ - 150℃，溫度波動度≤±0.5℃，溫度均勻度≤±2℃，可滿足芯片在極寒與高溫環境下的測試需求。

濕度范圍：20% - 98% RH，濕度偏差 ±2% - 3% RH，能模擬多種潮濕環境條件。

升降溫速率：0.7℃ - 1.0℃/min（全程平均），可達 5℃ - 10℃/min，快速實現溫變測試。

工作室尺寸：根據實際需求定制，常見規格如 1000mm×1000mm×1000mm，滿足不同數量芯片樣品測試。

大型高低溫試驗箱芯片可靠性測試系統

加濕系統

采用蒸汽加濕方式，通過電加熱管將水加熱產生蒸汽，蒸汽經管道輸送至試驗箱內部。智能控制系統根據設定濕度值，精確控制蒸汽的產生量與輸送速度，實現對試驗箱內濕度的精準調節。該系統具有加濕速度快、濕度均勻性好、穩定性強等特點，可在短時間內將試驗箱內濕度提升至設定值，并保持穩定，為芯片可靠性測試提供可靠的高濕環境。

工作原理

系統通過制冷與制熱系統實現溫度調節。制冷系統采用壓縮機制冷技術，通過制冷劑的蒸發與冷凝循環，吸收箱內熱量，達到降溫目的；制熱系統則利用電加熱元件，將電能轉化為熱能，對箱內空氣進行加熱。溫濕度傳感器實時監測箱內環境參數，并將數據反饋給智能控制系統。控制系統根據設定參數與反饋數據，自動調節制冷、制熱、加濕設備的運行狀態，使試驗箱內溫濕度始終保持在設定范圍內，從而為芯片提供穩定、可控的測試環境，完成芯片在不同溫濕度條件下的可靠性測試。

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