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半導體高低溫試驗箱是專為芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等半導體產品及材料設計的精密環境測試設備。它通過模擬高低溫交變環境,驗證產品在貯存、運輸及使用過程中的可靠性、耐久性及性能穩定性,是確保半導體產品質量關鍵工具。
產品型號:THC-408PF
廠商性質:生產廠家
更新時間:2026-02-05
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高低溫試驗箱是專為芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等半導體產品及材料設計的精密環境測試設備。它通過模擬高低溫交變環境,驗證產品在貯存、運輸及使用過程中的可靠性、耐久性及性能穩定性,是確保半導體產品質量關鍵工具。
可靠性試驗:進行高低溫循環、高溫老化、低溫貯存等測試,加速暴露產品潛在缺陷。
特性評估:評估半導體元器件在不同溫度下的電氣性能、功能表現及參數漂移。
質量控制:在研發、生產篩選及來料檢驗環節,剔除早期失效品,提升產品良率。
符合性測試:用于滿足AEC-Q100、JEDEC、MIL-STD等汽車電子、工業及標準。
溫度范圍:通常可達-70℃ ~ +150℃,或更寬范圍(如-80℃ ~ +180℃)。
升溫/降溫速率:線性速率常見為3~15℃/min,快速溫變型可達20℃/min以上。
溫度均勻度與波動度:均勻度≤±2℃,波動度≤±0.5℃(國標測試條件)。
內箱容積:標準規格從64升到1000升或定制。
控制器:彩色觸摸屏,可編程,支持多段溫度曲線設定與存儲。
外殼:優質冷軋鋼板,表面靜電噴塑,耐腐蝕。
內膽:采用304不銹鋼板,耐高溫、潔凈度高。
保溫層:高強度聚氨酯發泡材料,確保絕熱性能。
觀察窗:多層中空防霧鋼化玻璃,內置加熱膜,防止結露。
測試孔:箱體側面標配引線孔,便于通電測試。
設計:采用緊湊型或分體式設計(將壓縮機部分分離),減少占地面積和振動影響。循環風道經過CFD優化,確保溫場均勻。
安裝:需放置于水平、通風良好的室內,預留足夠的散熱和維護空間。
調試:由專業工程師上門完成,包括設備就位、通電、參數校準及試運行,并對用戶進行操作與編程培訓。
提供全面的售后服務保障,通常包括:
質保期:整機1-2年,核心壓縮機更長保修。
技術支持:提供7x24小時電話/在線響應。
現場服務:快速派工程師上門維修與保養。
備件供應:保證長期提供原裝備品備件。





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