一、數據記錄方法
（一）設備自帶記錄系統
多數冷熱沖擊試驗箱配備內置數據記錄裝置。該裝置能自動記錄試驗全程的關鍵數據，像溫度變化曲線（涵蓋升溫、降溫速率，高低溫保持階段的溫度波動）、試驗起始與結束時間、循環次數等。以某試驗箱為例，其通過高精度溫度傳感器，每秒采集一次溫度數據，并存儲于設備內存，可存儲長達一個月的試驗數據。用戶能在設備操作界面便捷查詢過往試驗數據，還可按日期、試驗編號等條件篩選。 （二）外接數據采集設備
（三）人工記錄輔助
在一些對特定現象需詳細記錄的試驗里，人工記錄作為輔助手段。操作人員在試驗期間定時觀察并記錄樣品外觀變化，如是否出現裂紋、變形、變色，電子產品性能有無異常（如短路、斷路、信號傳輸故障）等。在新材料研發測試時，人工每 30 分鐘記錄一次樣品外觀，結合設備自動記錄的溫度數據，綜合分析材料性能變化。
二、數據分析方法
（一）趨勢分析
通過繪制溫度 - 時間曲線，分析產品在整個試驗過程中的溫度響應趨勢。從曲線能直觀看出產品升溫、降溫是否順暢，各階段溫度保持是否穩定。若在某循環中，升溫時間明顯延長，可能暗示試驗箱加熱系統有問題；產品在高溫保持階段溫度波動超出允許范圍，會影響產品性能評估準確性，需排查原因，如傳感器故障、加熱絲老化。
（二）對比分析
將試驗數據與產品設計標準、過往試驗數據對比。把新產品測試數據與設計要求的溫度范圍、循環次數下的性能指標對比，判斷產品是否達標。也可對比同一產品不同批次試驗數據，監控產品質量穩定性。若某批次產品在冷熱沖擊后性能下降幅度比之前批次大很多，要深入排查生產環節差異，如原材料質量波動、工藝參數改變。
（三）失效分析
針對試驗中出現性能失效的產品，結合數據進行失效分析。依據記錄的溫度變化、樣品外觀及性能數據，確定失效是由高溫、低溫還是溫度沖擊引起，定位失效部件或材料。在電子產品測試中，若試驗后某芯片功能異常，通過分析數據發現芯片所在區域在低溫沖擊時溫度超設計下限，可能是低溫導致芯片內部電路損壞，為產品改進提供方向，如優化芯片散熱設計、選用更耐低溫材料。
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更新時間：2025-05-15 
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